半导体测试
IGBT 及第三代半导体器件全参数测试2026-01-06
DCDC 耐久测试2026-01-06
OBC 耐久测试2026-01-06
高压电性能测试2026-01-06
电机控制器耐久测试2026-01-06
SiC 等功率半导体器件全参数测试2026-01-06
AEC-Q101认证试验2026-01-04
先进封装组装技术
焊点质量检测2026-01-06
离子清洁度测试2026-01-06
锡须检查2026-01-06
PCBA 工艺及结构可靠性评估与验证2026-01-06
芯片板级可靠性测试 (BLR)2026-01-06
活性金属化基板测试 AMB2026-01-06
PCB PCBA 金相切片试验2026-01-06
5G 高速电路基板可靠性验证2026-01-06
车用电子工艺质量评价2026-01-06
光电子测试
X 射线光电子能谱 (XPS) 表面分析测试2026-01-07
AEC-Q102 产品试验2026-01-07
光电子器件测试2026-01-07
硅光芯片测试2026-01-07
光模块可靠性及测试2026-01-07
光电子器件失效分析2026-01-07
失效分析FA
PCB 板材 & 焊点失效分析2026-01-06
功率器件失效分析2026-01-06
集成电路失效分析2026-01-06
电子元器件失效分析2026-01-06
金属 & 塑料件断口失效分析2026-01-06
显微结构及材料分析
先进制程晶圆级 FIB 制样及 TEM 分析2026-01-07
DB-FIB 双束聚焦离子束显微镜2026-01-07
TEM 透射电子显微镜拍摄分析2026-01-07
晶圆劈裂设备及 SEM 拍摄2026-01-07
AFM 原子力显微镜分析2026-01-07
EDS 能谱分析2026-01-07
PFIB 等离子体聚焦离子束显微镜2026-01-07
破坏性物理分析 DPA
大功率模组的破坏性物理分析2026-01-07
先进封装人工智能芯片 DPA2026-01-07
元器件腐蚀验证2026-01-07
商业航天用 COTS 元器件 DPA（破坏性物理分析）检查2026-01-07
X-ray 无损检测2026-01-07
破坏性物理分析 (DPA)2026-01-07
车规芯片
AQG324 功率器件试验认证2026-01-07
AEC-Q102产品试验2026-01-07
AEC-Q100认证试验2026-01-07
车规级电子元器件AEC-Q认证测试2026-01-07
AEC-Q104认证测试2026-01-07
AEC-Q200产品测试2026-01-07
集成电路可靠性技术
LED、APD 等光电子器件规模化老炼2026-01-07
SBD、MOS、IGBT 等分立器件规模化老炼及可靠性测试2026-01-07
电源模块老炼与测试验证2026-01-07
集成电路动态老炼与测试2026-01-07
MLCC 等无源元件 10k 级规模化老炼2026-01-07
芯片及晶圆级 TLP 测试2026-01-07
功率模块功率循环测试及分析2026-01-07
芯片级 EOS 测试2026-01-07
芯片级 ESD 测试2026-01-07
集成电路量产技术
CP (晶圆) 工程化量产测试2026-01-07
集成电路工程化量产测试2026-01-07
集成电路 IP 工程验证2026-01-07
质量一致性测试2026-01-07
IC 筛选测试2026-01-07
IC 可靠性测试2026-01-07
芯片 SLT (系统) 与板级测试2026-01-07
FT (成品) 工程化量产测试2026-01-07
材料表面分析技术(EBSD)测试2026-01-07
多方面可靠性测试
汽车电子融合感知评估2026-01-08
轨道、电力等领域控制板卡老化状态评价2026-01-08
装备定寿延寿2026-01-08
科研结题+认证一站式服务2026-01-08
射频微波元器件参数测试2026-01-08
功放管/低噪放等动静态老炼及可靠性测试2026-01-08
半导体功率器件质量提升2026-01-08
国产化替代验证服务2026-01-08
先进汽车组件、元器件竞品分析2026-01-08
智能座舱评估2026-01-08
云纹法基板翘曲检测2026-01-08
焊点疲劳可靠性正向设计2026-01-08
特种线缆测试
电缆及连接器综合测试2026-01-08
出口电线电缆及连接器测试2026-01-08
舰船电线电缆及连接器测试2026-01-08
光纤光缆及连接器组件测试2026-01-08
航空航天用电线电缆测试2026-01-08
FAKRA、HSD、USB连接器信号完整性测试2026-01-08
技术分享
攻克车规认证壁垒：AQG324全项测试能力解析2026-01-08
集成电路检测技术的最新进展2026-01-08
低功耗芯片测试方法与能效验证技术2026-01-08
精测电子技术解析：FIB-TEM在7nm以下制程中的关键作用2026-01-08
检测知识
航天级元器件筛选流程与标准解析2026-01-08
从晶体管到芯片：集成电路技术的演进2026-01-08
半导体测试设备有哪些？2026-01-08
从失效分析到工艺优化：精测电子的全流程技术闭环2026-01-08
行业动态
温度循环与高温老化在元器件筛选中的作用2026-01-08
国产替代新起点：基于AQG324标准的功率模块可靠性验证2026-01-08
5G与AI芯片的高速接口测试技术探析2026-01-08
车规级芯片可靠性验证，精测电子如何满足AEC-Q102严苛要求？2026-01-08