芯片 SLT (系统) 与板级测试

芯片 SLT (系统) 与板级测试

深入解析SLT系统级测试与板级验证,提升芯片可靠性与量产效率,适用于SOC/ASIC/SIP等芯片类型。

在智能汽车、高性能计算、5G通信等高可靠性应用场景中,芯片不仅要“能用”,更要“可靠、稳定、高效”。随着电子系统复杂度飙升,传统测试手段已难以覆盖真实使用中的全部工况。此时,系统级测试(SLT)与板级验证测试成为保障芯片质量的关键环节。它们不仅模拟终端应用场景,更在量产前有效拦截潜在缺陷,为产品交付保驾护航。

什么是 SLT 与板级测试?

SLT(System-Level Test)系统级测试

SLT 是在接近芯片最终应用环境(如插入主板、运行操作系统、加载实际负载)下进行的功能与性能验证。它不依赖探针或封装引脚直连,而是通过整机或类整机平台进行“黑盒”测试,高度还原真实使用状态。

板级测试(Board-Level Validation)

板级测试聚焦于芯片在目标电路板上的集成表现,涵盖功能验证、信号完整性、电源管理、温升、EMC等多维度评估,是芯片从“样品”走向“产品”的关键桥梁。

为什么 SLT 与板级测试越来越重要?

  • 更高可靠性要求:汽车电子、工业控制等领域对故障容忍度趋近于零。
  • 复杂 SoC 集成度提升:传统 ATE 测试难以覆盖所有功能模块交互场景。
  • 成本与效率平衡:SLT 可在量产阶段替代部分昂贵 ATE 测试,提升测试吞吐量。
  • 快速交付压力:客户要求“测试即验证”,缩短从设计到市场的周期。

测试服务全景:覆盖芯片全生命周期

测试类型核心服务内容
板级验证测试板级测试方案开发、硬件设计、软件开发;功能/性能/可靠性测试
SLT 量产测试SLT 测试方案开发、定制化硬件平台、上位机软件开发;支持大批量自动化测试
科研项目验收检测依据项目指标,提供第三方权威验证与测试报告

支持的芯片类型与标准体系

支持芯片类型

  • 大规模 SoC(系统级芯片)
  • ASIC(专用集成电路)
  • SiP(系统级封装)

遵循标准

  • 国际规范:MIL-STD、IEEE、JEDEC 等
  • 客户定制标准:产品规格书、详细设计文档、自定义测试方案

所有测试均在 CNAS 认可实验室 环境下执行,确保数据权威、可追溯、可复现。

SLT vs 传统测试:优势对比

维度传统 ATE 测试SLT 系统级测试
测试环境芯片引脚级电气激励接近真实应用的整机/板级环境
覆盖场景基础功能、参数复杂交互、系统级行为
故障检测能力针对制造缺陷可捕获时序、热、电源耦合等问题
量产成本高(设备昂贵)中低(可复用终端平台)
交付速度受限于测试向量开发快速部署,贴近产品定义

总结:真实场景,才是芯片的终极考场

SLT 与板级测试不再是“可选项”,而是高性能、高可靠性芯片量产前的“必经之路”。它们以真实应用场景为标尺,不仅提升故障覆盖率,更在控制成本的同时加速产品上市。对于芯片设计公司与科研机构而言,选择具备系统级验证能力的测试伙伴,意味着更少的返工、更快的客户认可、更强的市场竞争力。

深圳德恺专注于半导体工程化测试服务,提供 板级验证、SLT 量产测试、科研项目验收检测 等一站式解决方案,服务覆盖 SoC、ASIC、SiP 等先进芯片类型。依托 CNAS 认可实验室与资深 IC 测试团队,我们从方案开发、硬件搭建到自动化测试执行,全程支持客户从工程验证到大规模量产的无缝过渡。

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