在现代高端制造、航空航天、国防军工等领域，电子系统的可靠性直接决定任务成败。而电子元器件作为系统的基础“细胞”，其质量与稳定性至关重要。元器件筛选，正是从源头剔除早期失效品、提升整机寿命与可靠性的关键手段。一套科学、严谨、标准的筛选流程，不仅是质量控制的防线，更是对使命交付的承诺。
为什么筛选不可或缺？
电子元器件在生产过程中不可避免地存在微小缺陷。这些缺陷在初期可能不会立即显现，但一旦装入整机并在复杂工况下运行，就可能引发“婴儿死亡率”（Infant Mortality）——即早期突发失效。
筛选的目的，就是在装机前通过应力加速暴露潜在缺陷，确保只有高可靠性器件进入最终产品。
覆盖全面的元器件类型
我们可对以下类别元器件提供标准化筛选服务：
- 半导体集成电路
包括微处理器、单片机、存储器（DRAM、NAND FLASH、MRAM等）、电源管理芯片、接口芯片（CAN、PCI、LVDS等）、模拟器件（运放、比较器、多路复用器）等。 - 混合集成电路
如AC/DC、DC/DC电源模块、专用功能模块。 - 射频微波器件
涵盖滤波器、功分器、放大器、混频器、射频开关等。 - 半导体分立器件
二极管、三极管、MOSFET、IGBT、光耦、可控硅等。 - 无源元件 & 机电组件
电阻、电容、电感、磁珠、变压器、继电器、连接器、开关、线缆等。 - 频率控制器件
晶体谐振器、晶体振荡器（XO、TCXO、OCXO等）。
严格遵循权威检测标准
我们的筛选流程全面对标国内外高可靠性标准，确保每一步均有据可依：
| 标准类型 | 标准编号 | 适用范围 |
|---|---|---|
| 国军标 | GJB7243-2011 | 军用元器件筛选技术要求 |
| 国军标 | GJB548C-2021 | 微电子器件试验方法 |
| 国军标 | GJB128B-2021 | 半导体分立器件试验 |
| 国军标 | GJB360B-2009 | 电子及电气元件通用试验 |
| 航天标准 | QJ10003—2008 | 进口元器件筛选指南 |
| 美军标 | MIL-STD-883G | 微电子器件可靠性试验 |
| 美军标 | MIL-STD-750D | 分立器件测试方法 |
核心检测项目一览
📌 电性能测试
- 常温、高温（+125℃）、低温（-55℃）下的参数验证
- 功能与极限参数一致性确认
🌡️ 温度应力试验
- 高/低温贮存（最高150℃，最低-65℃）
- 温度循环（-65℃ ↔ +150℃，多循环）
- 温度冲击（气态/液态，快速切换）
🌀 机械应力试验
- 扫频振动、随机振动
- 恒定加速度（达5000g）
- 自由跌落测试
🔥 老炼（Burn-in）试验
- 高温反偏老炼（HTRB）
- 功率老炼（HTGB）
- 恒流老炼、间歇寿命老炼
- 高/低温动态运行老炼
🔍 非破坏性物理分析（NDA）
- X射线照相检查：检测内部键合、空洞、裂纹
- 扫描声学显微镜（SAM）：识别分层、空洞、封装缺陷
- PIND检测：粒子碰撞噪声检测，排查内部可移动颗粒
- 密封性检测：粗检漏 + 细检漏（氦质谱法）
服务优势：技术 + 规模 + 信任
- 2000+台套先进设备：覆盖从通用元件到高频微波器件的全谱系测试需求
- 全流程能力：可自主开发老炼程序、ATE测试程序、定制老炼板
- 资质权威：具备 CNAS 与 CMA 双重认证，数据全球互认
- 高效交付：常规筛选周期 7–10个工作日，急单可加急处理
- 客户广泛：已服务 航天、航空、电科、兵器、船舶等1000+单位，口碑坚实
总结
电子元器件筛选绝非简单的“合格/不合格”判定，而是一套融合材料科学、失效物理、应力工程与质量管理体系的综合技术实践。在高可靠领域，“一次筛选，终身安心” 不仅是口号，更是对系统安全的庄严承诺。选择专业、规范、全链条的筛选服务，就是为关键装备筑牢第一道质量防线。
深圳德恺检测专注于半导体及电子元器件的可靠性筛选与失效分析，具备CNAS/CMA资质，提供从方案设计、应力试验到数据报告的一站式服务。我们深耕军工与高端制造领域，以技术实力守护每一颗“芯”的可靠运行。欢迎访问官网或联系技术顾问，获取定制化筛选方案。
