功率器件脉冲IV测试避免热效应

大功率IGBT和MOSFET在进行IV特性测试时，直流大电流会导致芯片发热，使数据失真。本文详解脉冲IV测试原理，如何通过微秒级脉冲避免自热效应，获取真实的器件特性。

2026-02-06 技术分享