AFM 原子力显微镜分析
AFM原子力显微镜在半导体研发与生产中实现纳米级形貌、电学特性与缺陷检测，助力晶圆厂提升良率与可靠性。
EDS 能谱分析
专业提供 SEM-EDS、FIB-EDS、TEM-EDS 能谱分析服务，3日出报告，支持12小时加急，适用于半导体、新材料等领域。深圳德恺检测，权威可靠。
PFIB 等离子体聚焦离子束显微镜
PFIB等离子体聚焦离子束显微镜实现高通量、高精度半导体截面加工与TEM制样，支持3D NAND、DRAM、MEMS等大尺寸样品，助力先进制程失效分析与研发。
PCBA 工艺及结构可靠性评估与验证
专业PCBA工艺与结构可靠性评估服务，覆盖汽车电子、通信、医疗等领域，助力产品寿命提升与故障率降低。
集成电路失效分析
集成电路失效分析精准定位芯片故障根源，提升良率与可靠性。深圳德恺检测提供CNAS认证半导体检测服务，支持国产芯片质量突破，5-12日极速交付。
电源模块一筛及检验
详解电源模块一筛流程与检验标准，涵盖电性能、可靠性、失效分析等关键测试，保障高可靠性电源模块品质。